Os módulos I/O ultracompactos TBEN-S da Turck criam novas possibilidades para automação eficiente de bancada de testes com a utilização de drivers LabVIEW
Drivers LabVIEW para Módulos I/O em Bloco IP67
24/19 – Novos drivers tornam o módulo I/O compacto da Turck uma alternativa robusta para automação de bancada de teste usando módulos IP67, sem a necessidade de um PLC diretamente no campo
Mülheim, 13 de novembro de 2019O site da National Instruments agora oferece drivers LabVIEW para download dos módulos I/O compactos TBEN-S da Turck. Os novos drivers permitem aos usuários reduzir significativamente os custos de automação de bancadas de teste em produção. Os robustos módulos I/O TBEN-S2-2RFID-4DXP, TBEN-S2-4AO, TBEN-S2-4AI e TBEN-S1-8DXP podem substituir os caros sistemas de I/O comumente usados para automação de bancada de teste. Um PLC separado para controlar os módulos não é mais necessário. Com sua alta proteção IP67, os módulos podem ser instalados diretamente no campo sem a necessidade de um painel de controle.
Os drivers do LabVIEW foram desenvolvidos em cooperação com a Turck como parte de um projeto do cliente por especialistas da Kirschenhofer Maschinen GmbH. O portfólio da empresa abrange desde a construção de máquinas e fábricas até o desenvolvimento de software, passando pela integração de sistemas e automação de bancadas de teste.
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